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Su demanda es nuestro incentivo - Ventajas de la tecnología de medición XRF de Fischer en un vistazo

Tenemos lo que usted necesita: ¡muchos años de experiencia integral en el campo del análisis de fluorescencia de rayos X (análisis XRF)! Usted obtiene la solución óptima, especialmente para su tarea de medición - ¡se lo prometemos!

Contacto

Principio de medición XRF de Fischer - Así funciona:

Rápido, sencillo y no destructivo - ¡eso es lo que significa el análisis XRF con la tecnología de medición Fischer XRF! El haz de rayos X ioniza los átomos de la muestra de medición. El detector detecta la radiación de fluorescencia que se produce y el software desarrollado por la empresa procesa las señales.

Configuración de los instrumentos de medición XRF de Fischer: así se consiguen resultados de medición óptimos:

Hay que prestar atención a los detalles: ¡cada uno de los componentes tiene que ver con el éxito de su medición!

Material del tubo de rayos X y del ánodo:
Piezas pequeñas, un efecto importante El "corazón" del aparato XRF, el generador de rayos X, consiste en un tubo estándar o microfoco con ánodo de tungsteno, rodio, molibdeno o cromo. Estos componentes son decisivos para determinar la precisión de la medición y el espectro de energía que se obtiene.

Filtro:
Sólo pasa lo esencial: el haz de rayos X pasa a través de un filtro para reducir el ruido de fondo en los rangos de energía relevantes y lograr así una mayor sensibilidad para las señales de materiales que están presentes sólo en bajas concentraciones.

Aperturas y óptica de rayos X:
¡Foco hecho por Fischer! Como uno de los 2 únicos fabricantes de ópticas policapilares en todo el mundo, permitimos enfocar una gran parte de la radiación primaria en un diminuto punto de medición.

Detectores:
¡Único en el mercado! Sólo en Fischer puede elegir entre 3 tipos de detectores diferentes para la solución óptima de su tarea de medición: tubo contador proporcional, diodo PIN de silicio y detector de deriva de silicio.

Los fundamentos del análisis de fluorescencia de rayos X y las propiedades más importantes del instrumento.

En el pasado, el análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) se usaba principalmente en geología. Hoy está firmemente establecido como una tecnología clave para su uso tanto en la industria como en el laboratorio. Este método es extraordinariamente versátil: puede detectar todo elementos químicos relevantes del sodio al uranio.

XRF se usa a menudo para el análisis de materiales, es decir, para determinar la cantidad de una sustancia dada en la muestra, como medir el contenido de oro en joyas o detectar sustancias peligrosas en objetos cotidianos de acuerdo con la directiva de Restricción de Sustancias Peligrosas (RoHS) . Además, el grosor de los recubrimientos se puede medir con XRF: es rápido, limpio y no destructivo.

Así funciona la medición

Cuando un dispositivo de RAYOS X comienza una medición, el tubo de rayos X emite radiación de alta energía, que también se llama radiación 'primaria'. Cuando estos rayos X golpean un átomo en la muestra, agregan energía Es decir, lo 'excitan', lo que hace que el átomo expulse un electrón cerca de su núcleo, un proceso conocido como 'ionización'. Dado que este estado es inestable, un electrón de una capa superior se mueve para llenar el vacío, emitiendo así ' radiación de fluorescencia.

El nivel de energía de esta radiación secundaria es como una huella digital: es característica del elemento respectivo. Un detector ve la fluorescencia y digitaliza la señal. Después de que la señal ha sido procesada, el dispositivo crea un espectro: el nivel de energía de los fotones detectados se representa en el eje xy su frecuencia en el eje y (tasa de conteo). Los elementos en la muestra se pueden identificar desde las posiciones (a lo largo del eje x) de los picos en el espectro. Los niveles (a lo largo del eje y) de estos picos proporcionan información sobre la concentración de los elementos.

Las propiedades de dispositivo más importantes para el mejor resultado de medición

Muchos factores influyen en qué tan bien el dispositivo puede diferenciar entre elementos. Componentes como el tubo de rayos X, la óptica, los filtros y el detector juegan un papel importante en esto.

Tubo de rayos-x

Los materiales en el tubo de rayos X determinan el espectro de energía de la radiación de rayos X primaria con la que se excita la muestra. Un ánodo de tungsteno se usa comúnmente porque produce un espectro particularmente intenso y amplio que puede emplearse para aplicaciones generales. Para aplicaciones especializadas, p. en las industrias de semiconductores o placas de circuito impreso (PCB), también se utilizan ánodos de molibdeno, cromo o rodio; estos ánodos son particularmente adecuados para medir elementos ligeros y análisis de materiales.

Filtros

En el camino desde el ánodo a la muestra, los rayos X primarios pasan a través de un filtro. Fischer generalmente usa filtros hechos de láminas metálicas delgadas, e. sol. De aluminio o níquel. Estos filtros modifican las características de la radiación primaria al absorber parte del espectro. De esta forma, el ruido de fondo se puede reducir significativamente. Por lo tanto, se puede lograr una mayor sensibilidad a las señales débiles. Por ejemplo, los filtros de aluminio ayudan a detectar plomo en concentraciones particularmente bajas

Aberturas y óptica de rayos X

La abertura (colimador) se encuentra entre el tubo de rayos X y la muestra. Controla el tamaño del haz primario y garantiza que solo se excite un punto específico y enfocado en la muestra.

Cuando el punto de medición es necesariamente pequeño, la radiación que llega a la muestra es mínima y la señal de fluorescencia resultante es correspondientemente débil. Para lograr conteos lo suficientemente altos para una evaluación confiable, las mediciones deben tomar más tiempo.

La solución a este problema es la óptica policapilar. Los policapilares son haces de fibras de vidrio que enfocan la radiación primaria casi entera como una lupa en un punto pequeño. Solo hay dos fabricantes de este tipo de óptica en todo el mundo, ¡y Fischer es uno de ellos!  

Detector para la determinación cuantitativa de los elementos

The last crucial component is the detector, which is the part that sees the fluorescence radiation. There are three types.

The silicon PIN diode is a mid-level detector. It has much better resolution than the PC, but only a small measurement area. It can be used for both material analysis and coating thickness measurement, but it requires a relatively long measurement time for small measurement points.

The highest quality X-ray fluorescence devices use a silicon drift detector (SDD). This type of detector has excellent energy resolution, which means that it can detect radiation even from sample elements that are present in very low concentrations. In addition, such devices can determine the thickness of coatings in the nanometer range and easily enable the evaluation of complex multilayer systems.

 

El Tubo de Contador Proporcional todavía tiene su Derecho a Existir. Aquí puede leer por qué.

Patentado por Fischer: el método DCM para un ajuste sencillo y rápido de la distancia de medición

  • Corrección de los valores de medición en función de la distancia
  • Corrección de los valores de medición en función de la distancia.
  • Ajuste rápido y cómodo de diferentes distancias de medición
  • La distancia de medición puede ajustarse suavemente - para realizar mediciones con la menor distancia posible y así optimizar la tasa de recuento   
  • Medición sencilla de formas geométricas complejas y en huecos 
  • Sólo con Fischer DCM: sin riesgo de colisión para el cabezal de medición

El método de medición con control de distancia (DCM) patentado por Fischer permite la máxima flexibilidad en sus mediciones. Gracias a DCM, la distancia de medición correcta para su muestra puede ajustarse a través del enfoque de vídeo y tenerse en cuenta durante la evaluación. Esto garantiza una medición sencilla y rápida sin necesidad de calibración previa. Las formas geométricas complicadas y los huecos ya no son un problema.

El dispositivo de medición adecuado para su tarea de medición específica

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