Fluorescencia de rayos X

Análisis por fluorescencia de rayos X, energía dispersiva (XRFA), conforme a DIN ISO 3497 y ASTM B 568

Método de medición:

El análisis por fluorescencia de rayos X se basa en el fenómeno por el cual se liberan electrones de las capas más internas por la excitación mediante radiación X primaria de los átomos de una muestra de material. Las vacantes se rellenan con electrones de las capas externas.

Atomic model for the X-Ray Fluorescence Analysis method.
Atomic model for the X-Ray Fluorescence Analysis method.

Durante estas transiciones, se genera radiación por fluorescencia característica de cada elemento. Esto es leído por un detector que informa sobre la composición de la muestra.

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